A cross-layer analysis of Soft Error, aging and process variation in Near Threshold Computing
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-9815370-6-2 KITopen-ID: 1000056038 |
| Erschienen in | Proceedings of the 19th Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, DATE 2016; International Congress Centre Dresden (ICC)Dresden; Germany; 14 March 2016 through 18 March 2016 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 205-210 |
| Nachgewiesen in | Scopus |