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Scanning infrared deflectometry for the inspection of diffusely reflecting surfaces = Scannende Infrarotdeflektometrie für die Inspektion diffus spiegelnder Oberflächen

Höfer, Sebastian 1; Beyerer, Jürgen 1
1 Fakultät für Informatik – Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme (Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1515/teme-2016-0004
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Zitationen: 3
Dimensions
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0171-8096
KITopen-ID: 1000056127
Erschienen in tm - Technisches Messen
Verlag De Gruyter
Band 83
Heft 6
Seiten 374–385
Nachgewiesen in Dimensions
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