KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1515/teme-2016-0004
Scopus
Zitationen: 2
Web of Science
Zitationen: 2

Scanning infrared deflectometry for the inspection of diffusely reflecting surfaces = Scannende Infrarotdeflektometrie für die Inspektion diffus spiegelnder Oberflächen

Höfer, Sebastian; Beyerer, Jürgen



Zugehörige Institution(en) am KIT Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme (Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0171-8096
KITopen ID: 1000056127
Erschienen in tm - Technisches Messen
Band 83
Heft 6
Seiten 374–385
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page