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Scanning infrared deflectometry for the inspection of diffusely reflecting surfaces = Scannende Infrarotdeflektometrie für die Inspektion diffus spiegelnder Oberflächen

Höfer, Sebastian; Beyerer, Jürgen



Zugehörige Institution(en) am KIT Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme (Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1515/teme-2016-0004
ISSN: 0171-8096
KITopen ID: 1000056127
Erschienen in tm - Technisches Messen
Band 83
Heft 6
Seiten 374–385
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