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Spectral transfer from phase to intensity in Fresnel diffraction

Hahn, Steffen; Müller, Y.; Hofmann, Ralf; Moosmann, Julian; Öktem, Ozan; Helfen, Lukas; Guigay, Jean Pierre; van de Kamp, Thomas; Baumbach, Tilo



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1103/PhysRevA.93.053834
ISSN: 0556-2791, 1050-2947, 1094-1622, 2469-9926, 2469-9934
KITopen ID: 1000056445
HGF-Programm 56.03.30; LK 01
Erschienen in Physical review / A
Band 93
Heft 5
Seiten 053834
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