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Concentration profile measurements in polymeric coatings during drying by means of Inverse-Micro-Raman-Spectroscopy (IMRS)

Schabel, W.; Scharfer, P.; Ludwig, I.; Müller, M.; Kind, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Thermische Verfahrenstechnik (TVT)
Publikationstyp Forschungsbericht
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000056763
HGF-Programm 43.22.03; LK 01
Serie Horiba Jobin Yvon Raman Update ; Autumn 2005
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