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Scanning Tunneling Microscopy Characterization of C70 Thin Films

Liu, Shengzhong; Kappes, Manfred M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Physikalische Chemie (IPC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1016/0040-6090(92)90884-E
ISSN: 0040-6090, 1879-2731
KITopen ID: 1000057038
Erschienen in Thin solid films
Band 216
Heft 1
Seiten 142-144
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