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A new spectroscopic method of layer measurements in smectites

Kuligiewicz, A.; Derkowski, A.; Emmerich, K.; Christidis, G.E.; Tsiantos, C.; Gionis, V.; Chryssikos, G.D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Kompetenzzentrum für Materialfeuchte (CMM)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000057049
HGF-Programm 34.15.01; LK 01
Erschienen in 8th Mid-European Clay Conference (MECC 2016), Kosice, SK, July 4-8, 2016
Bemerkung zur Veröffentlichung Book of Abstracts p.34
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