A new spectroscopic method of layer measurements in smectites

Kuligiewicz, A.; Derkowski, A.; Emmerich, K.; Christidis, G. E.; Tsiantos, C.; Gionis, V.; Chryssikos, G. D.

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seit 13.06.2019

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG) KIT-Zentrum Klima und Umwelt (ZKU) Kompetenzzentrum für Materialfeuchte (CMM)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2016
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000057049
HGF-Programm	34.15.01 (POF III, LK 01) Mineralische Konstruktionsmaterialien
Veranstaltung	8th Mid-European Clay Conference (MECC 2016), Kosice, SK, July 4-8, 2016
Bemerkung zur Veröffentlichung	Book of Abstracts p.34