Total internal reflection fluorescence microscopy - a powerful tool to study single quantum dots
Kobitski, A. Y.; Heyes, C. D.; Nienhaus, G. U.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2004 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0169-4332, 1873-5584 KITopen-ID: 1000057259 |
| Erschienen in | Applied surface science |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 234 |
| Heft | 1-4 |
| Seiten | 86-92 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |