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Total internal reflection fluorescence microscopy - a powerful tool to study single quantum dots

Kobitski, A. Y.; Heyes, C. D.; Nienhaus, G. U. ORCID iD icon


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.apsusc.2004.05.048
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Zitationen: 22
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Zitationen: 22
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Zitationen: 21
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0169-4332, 1873-5584
KITopen-ID: 1000057259
Erschienen in Applied surface science
Verlag Elsevier
Band 234
Heft 1-4
Seiten 86-92
Nachgewiesen in Scopus
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