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Total internal reflection fluorescence microscopy - a powerful tool to study single quantum dots

Kobitski, A.Y.; Heyes, C.D.; Nienhaus, G.U.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1016/j.apsusc.2004.05.048
ISSN: 0169-4332, 1873-5584
KITopen ID: 1000057259
Erschienen in Applied surface science
Band 234
Heft 1-4
Seiten 86-92
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