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An integrated instrumental setup for the combination of atomic force microscopy with optical spectroscopy

Owen, R.J.; Heyes, C.D.; Knebel, D.; Röcker, C.; Nienhaus, G.U.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1002/bip.20414
ISSN: 0006-3525, 1097-0282
KITopen ID: 1000057402
Erschienen in Biopolymers
Band 82
Heft 4
Seiten 410-414
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