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An integrated instrumental setup for the combination of atomic force microscopy with optical spectroscopy

Owen, R. J.; Heyes, C. D.; Knebel, D.; Röcker, C.; Nienhaus, G. U.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/bip.20414
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Zitationen: 25
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Zitationen: 23
Dimensions
Zitationen: 27
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0006-3525, 1097-0282
KITopen-ID: 1000057402
Erschienen in Biopolymers
Verlag John Wiley and Sons
Band 82
Heft 4
Seiten 410-414
Nachgewiesen in Dimensions
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