The effect of total reflection in PLIF imaging of annular thin films
Haeber, Thomas
1; Gebretsadik, Mulubrhan 1; Bockhorn, Henning 1; Zarzalis, Nikolaos 1
1 Engler-Bunte-Institut (EBI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Gebretsadik, Mulubrhan 1; Bockhorn, Henning 1; Zarzalis, Nikolaos 11 Engler-Bunte-Institut (EBI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Engler-Bunte-Institut (EBI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0301-9322, 1879-3533 KITopen-ID: 1000057667 |
| Erschienen in | International journal of multiphase flow |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 76 |
| Seiten | 64-72 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |