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The effect of total reflection in PLIF imaging of annular thin films

Haeber, Thomas; Gebretsadik, Mulubrhan; Bockhorn, Henning; Zarzalis, Nikolaos



Zugehörige Institution(en) am KIT Engler-Bunte-Institut (EBI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1016/j.ijmultiphaseflow.2015.06.009
ISSN: 0301-9322, 1879-3533
KITopen ID: 1000057667
Erschienen in International journal of multiphase flow
Band 76
Seiten 64-72
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