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Investigation of the diffusion behavior in Sn-xAg-yCu/Cu solid state diffusion couples

Yuan, Y. 1; Li, D. 1; Guan, Y.; Seifert, H. J. 1; Moelans, N.
1 Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.jallcom.2016.06.228
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0925-8388
KITopen-ID: 1000057717
HGF-Programm 37.01.02 (POF III, LK 01) Components and Cells
Erschienen in Journal of alloys and compounds
Verlag Elsevier
Band 686
Seiten 794-802
Nachgewiesen in Dimensions
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