| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-6284-1690-9 ISSN: 0038-7355; 0361-0748; 0277-786X KITopen-ID: 1000057831 |
| Erschienen in | Automated Visual Inspection and Machine Vision : 24 June 2015, Munich, Germany. Ed.: J. Beyerer |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Seiten | 95300N |
| Serie | SPIE Proceedings ; 9530 |
| Nachgewiesen in | Dimensions OpenAlex Scopus |