Measurement and analysis of thermal conductivity of isotopically controlled silicon layers by time-resolved X-ray scattering
Eon, S.; Frieling, R.; Plech, A.
1; Bracht, H.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Bracht, H.1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0031-8965, 1521-396X, 1862-6300, 1862-6319 KITopen-ID: 1000057868 |
| HGF-Programm | 56.03.20 (POF III, LK 01) Nanoscience a.Material f.Inform.Technol. |
| Erschienen in | Physica status solidi / A |
| Verlag | John Wiley and Sons |
| Band | 213 |
| Heft | 11 |
| Seiten | 3020-3028 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus Dimensions |