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Measurement and analysis of thermal conductivity of isotopically controlled silicon layers by time-resolved X-ray scattering

Eon, S.; Frieling, R.; Plech, A.; Bracht, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1002/pssa.201532607
ISSN: 0031-8965, 1521-396X, 1862-6300, 1862-6319
KITopen ID: 1000057868
HGF-Programm 56.03.20; LK 01
Erschienen in Physica status solidi / A
Band 213
Heft 11
Seiten 3020-3028
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