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Does automated unit test generation really help software testers? A controlled empirical study

Fraser, Gordon; Staats, Matt; McMinn, Phil; Arcuri, Andrea; Padberg, Frank



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1145/2699688
ISSN: 1049-331X, 1557-7392
KITopen ID: 1000057871
Erschienen in ACM transactions on software engineering and methodology
Band 24
Heft 4
Seiten Art.Nr.:23
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