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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/admi.201600446
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Zitationen: 7

Seeing Down to the Bottom: Nondestructive Inspection of All-Polymer Solar Cells by Kelvin Probe Force Microscopy

Cui, Z.; Sun, J.; Landerer, D.; Sprau, C.; Thelen, R.; Colsmann, A.; Hölscher, H.; Ma, W.; Chi, L.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2196-7350
KITopen-ID: 1000058130
HGF-Programm 43.22.01 (POF III, LK 01)
Erschienen in Advanced materials interfaces
Band 3
Heft 18
Seiten Art.Nr.:1600446
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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