KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Seeing Down to the Bottom: Nondestructive Inspection of All-Polymer Solar Cells by Kelvin Probe Force Microscopy

Cui, Z.; Sun, J.; Landerer, D.; Sprau, C.; Thelen, R.; Colsmann, A.; Hölscher, H.; Ma, W.; Chi, L.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1002/admi.201600446
ISSN: 2196-7350
KITopen ID: 1000058130
HGF-Programm 43.22.01; LK 01
Erschienen in Advanced materials interfaces
Band 3
Heft 18
Seiten Art.Nr.:1600446
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page