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Automated visual inspection and machine vision

Beyerer, Jürgen [Hrsg.]; Puente León, Fernando [Hrsg.]



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Buch
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-6284-1690-9
ISSN: 0277-786X
KITopen ID: 1000058321
Verlag SPIE, Bellingham (Wash.)
Umfang Getr. Zählung
Serie Proceedings of SPIE ; 9530
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