KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

A method to simulate the observed surface properties of proton irradiated silicon strip sensors

Peltola, T.; Bhardwaj, A.; Dalal, R.; Eber, R.; Eichhorn, T.; Lalwani, K.; Messineo, A.; Printz, M.; Ranjan, K.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1088/1748-0221/10/04/C04025
ISSN: 1748-0221
KITopen ID: 1000058366
Erschienen in Journal of Instrumentation
Band 10
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page