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Volltext
URN: urn:nbn:de:swb:90-587892

Advanced atomic force microscopy techniques III

Glatzel, Thilo; Schimmel, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2190-4286
KITopen ID: 1000058789
HGF-Programm 43.22.01; LK 01
Erschienen in Beilstein journal of nanotechnology
Band 7
Seiten 1052-1054
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