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Volltext
URN: urn:nbn:de:swb:90-587892
Originalveröffentlichung
DOI: 10.3762/bjnano.7.98
Scopus
Zitationen: 1
Web of Science
Zitationen: 1

Advanced atomic force microscopy techniques III

Glatzel, Thilo; Schimmel, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2190-4286

KITopen-ID: 1000058789
HGF-Programm 43.22.01 (POF III, LK 01)
Erschienen in Beilstein journal of nanotechnology
Band 7
Seiten 1052-1054
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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