Advanced atomic force microscopy techniques III
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2190-4286 urn:nbn:de:swb:90-587892 KITopen-ID: 1000058789 |
| HGF-Programm | 43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design |
| Erschienen in | Beilstein journal of nanotechnology |
| Verlag | Beilstein-Institut |
| Band | 7 |
| Seiten | 1052-1054 |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex Dimensions Web of Science |