Phase-Field Modeling of Grain-Boundary Grooving Under Electromigration
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0361-5235, 1543-186X KITopen-ID: 1000058879 |
| Erschienen in | Journal of electronic materials |
| Verlag | Springer |
| Band | 45 |
| Heft | 12 |
| Seiten | 6233-6246 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus Dimensions |