KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

System-level reliability evaluation through cache-aware software-based fault injection

Kaddachi, F.; Kooli, M.; Di Natale, G.; Bosio, A.; Ebrahimi, Mojtaba; Tahoori, Mehdi Baradaran



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/DDECS.2016.7482446
Scopus
Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-150902467-4
KITopen-ID: 1000058936
Erschienen in 19th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2016, Kosice, Slovakia, 20 April 2016 through 22 April 2016
Verlag IEEE, Piscataway, NJ
Seiten Art.Nr.: 7482446
Nachgewiesen in Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page