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System-level reliability evaluation through cache-aware software-based fault injection

Kaddachi, F.; Kooli, M.; Di Natale, G.; Bosio, A.; Ebrahimi, Mojtaba 1; Tahoori, Mehdi Baradaran 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/DDECS.2016.7482446
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Zitationen: 7
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Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-150902467-4
KITopen-ID: 1000058936
Erschienen in 19th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2016, Kosice, Slovakia, 20 April 2016 through 22 April 2016
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten Art.Nr.: 7482446
Nachgewiesen in Scopus
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