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Dopant-Site Determination in Y- and Sc-Doped (Ba0.5Sr0.5)(Co0.8Fe0.2)O3-δ by Atom Location by Channeling Enhanced Microanalysis and the Role of Dopant Site on Secondary Phase Formation

Meffert, M. 1; Störmer, H. 1; Gerthsen, D. 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S1431927615015536
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Zitationen: 12
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Zitationen: 12
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276, 1435-8115
KITopen-ID: 1000059028
Erschienen in Microscopy and microanalysis
Verlag Cambridge University Press (CUP)
Band 22
Heft 1
Seiten 113-121
Nachgewiesen in Web of Science
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