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Dopant-Site Determination in Y- and Sc-Doped (Ba0.5Sr0.5)(Co0.8Fe0.2)O3-δ by Atom Location by Channeling Enhanced Microanalysis and the Role of Dopant Site on Secondary Phase Formation

Meffert, M.; Störmer, H.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1017/S1431927615015536
ISSN: 1431-9276, 1435-8115
KITopen ID: 1000059028
Erschienen in Microscopy and microanalysis
Band 22
Heft 1
Seiten 113-121
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