Ein System zum Test schneller gemischt analog-digitaler Bausteine auf VLSI-Testsystemen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1993 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000059157 |
| Erschienen in | 5. Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen : Waldhotel Sachsenstern, Holzhau (Erzgebirge) ; 14. - 16. März 1993 |
| Verlag | FhG IIS |