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Ein System zum Test schneller gemischt analog-digitaler Bausteine auf VLSI-Testsystemen

Chowanetz, M.; Wolz, W.; Arnold, R.; Mueller-Glaser, K. D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1993
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 1000059157
Erschienen in 5. Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen : Waldhotel Sachsenstern, Holzhau (Erzgebirge) ; 14. - 16. März 1993
Verlag FhG IIS, Erlangen
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