Automated Comparison of Measured versus Expected Signals in Mixed Signal Device Testing and its Effect on Fault Localization Strategies
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1993 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 0-8186-3360-3 KITopen-ID: 1000059160 |
| Erschienen in | Proceedings / ETC 93 : April 19 - 22, 1993, Rotterdam |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Nachgewiesen in | Dimensions |