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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ETC.1993.246611

Automated Comparison of Measured versus Expected Signals in Mixed Signal Device Testing and its Effect on Fault Localization Strategies

Helmreich, K.; Chowanetz, M.; Wolz, W.; Scharf, R.; Mueller-Glaser, K. D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1993
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0-8186-3360-3
KITopen ID: 1000059160
Erschienen in Proceedings / ETC 93 : April 19 - 22, 1993, Rotterdam
Verlag IEEE, Los Alamitos, Calif.
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