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An Examination of Feedback Bridging Faults in Digital CMOS Circuits

Koch, B.; Mueller-Glaser, K. D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1993
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0-7803-1281-3
KITopen ID: 1000059161
Erschienen in 1993 IEEE International Symposium on Circuits and Systems : [proceedings], Sheraton Chicago Hotel & Towers, Chicago, IL, May 3 - 6, 1993, Pt. 2
Verlag IEEE, Piscataway, NJ
Seiten 1527-1530
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