An Examination of Feedback Bridging Faults in Digital CMOS Circuits
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1993 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 0-7803-1281-3 KITopen-ID: 1000059161 |
| Erschienen in | 1993 IEEE International Symposium on Circuits and Systems : [proceedings], Sheraton Chicago Hotel & Towers, Chicago, IL, May 3 - 6, 1993, Pt. 2 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1527-1530 |