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Towards higher quality of design and test - perspectives of EBT tool integration

Mueller-Glaser, K. D.; Wolz, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1016/0167-9317(94)90078-7
ISSN: 0167-9317, 1873-5568
KITopen ID: 1000059166
Erschienen in Microelectronic engineering
Bemerkung zur Veröffentlichung EOBT93, Zürich, 1.-3. September 1993
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