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Durchgängige Testmethoden für komplexe Steuerungssysteme - Optimierung der Prüftiefe durch effiziente Testprozesse, Elektronik im Kraftfahrzeug

Dornseiff, M.; Stahl, M.; Sieger, M.; Sax, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2001
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0083-5560
KITopen ID: 1000059200
Erschienen in 10. Internationaler Kongress "Elektronik im Kraftfahrzeug", 27. - 28.6.2001, Baden-Baden, Deutschland
Verlag VDI, Berlin
Seiten 347-366
Serie VDI-Berichte ; 1646
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