Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2001 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | KITopen-ID: 1000059207 |
Erschienen in | 13th Workshop Testmethods and Reliability of Circuit and Systems, Miesbach, Deutschland, 18. - 20. Februar 2001 |