| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2001 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000059207 |
| Erschienen in | 13th Workshop Testmethods and Reliability of Circuit and Systems, Miesbach, Deutschland, 18. - 20. Februar 2001 |