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Entwurfsbegleitender Test für die modellbasierte Entwicklung eingebetteter Systeme

Ritter, K.; Willibald, J.; Sax, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2001
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 1000059207
Erschienen in 13th Workshop Testmethods and Reliability of Circuit and Systems, Miesbach, Deutschland, 18. - 20. Februar 2001
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