Entwurfsbegleitender Test für die modellbasierte Entwicklung eingebetteter Systeme

Ritter, K.; Willibald, J.; Sax, E.

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2001
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 1000059207
Erschienen in	13th Workshop Testmethods and Reliability of Circuit and Systems, Miesbach, Deutschland, 18. - 20. Februar 2001

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