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A Common Mixed-Signal Testbench for Design Verfication and Test

Sax, Eric; Krampl, G.; Miegler, M.; Sattler, Sebastian



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000059216
Erschienen in 5th IEEE International Mixed Signal Testing Workshop, Whistler, British Columbia, Canada, 15-18 June, 1999. Chairman: A. Ivanov
Verlag [S.l.]
Seiten 35-40
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