KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

A Common Mixed-Signal Testbench for Design Verfication and Test

Sax, Eric; Krampl, G.; Miegler, M.; Sattler, Sebastian


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000059216
Erschienen in 5th IEEE International Mixed Signal Testing Workshop, Whistler, British Columbia, Canada, 15-18 June, 1999. Chairman: A. Ivanov
Verlag [S.l.]
Seiten 35-40
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page