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Entwurfsunterstützung durch Abschätzung von Chipfläche, Signallaufzeiten und Verlustleistung in frühen Entwurfsphasen

Kirsch, K.; Mueller-Glaser, K. D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1994
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 1000059224
Erschienen in Tagungsband Internationaler Kongresse, SMT/ASIC/Hybrid, Nürnberg, 1994
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