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Effizientes Testen durch optimierte Prozesse

Baero, T.; Hagel, J.; Sax, E.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2007
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 3-934698-36-0
ISSN: 1861-8545
KITopen-ID: 1000059257
Erschienen in E-&-E-Kompendium
Verlag Publish Industry Verl.
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