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Effizientes Testen durch optimierte Prozesse

Baero, T.; Hagel, J.; Sax, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2007
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 3-934698-36-0
ISSN: 1861-8545
KITopen ID: 1000059257
Erschienen in E-&-E-Kompendium
Verlag Publish-Industry-Verl., München
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