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Der Einsatz einer allgemeinen Testsignal-Beschreibungsumgebung zur Unterstützung des Entwurfs von Mikrosystemen

Sax, Eric; Tanurhan, Y.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1996
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0947-1413
KITopen ID: 1000059258
Erschienen in 3. Workshop Methoden und Werkzeuge zum Entwurf von Mikrosystemen mit dem Schwerpunkt Methoden zum Entwurf, zur Integration und Parametrisierung von Komponenten für applikationsspezifische integrierte Mikrosysteme 1996
Verlag C-LAB/Analoge Systemtechnik, Paderborn
Seiten 22-29
Serie C-Lab ; 1996
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