Helium ion microscopy - a new tool for imaging at the nanoscale
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000059458 |
| HGF-Programm | 43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design |
| Veranstaltung | 5th XPS Workshop 'Fundamentals and Applications of Surface Analysis', Karlsruhe, June 22-24, 2016 |