| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Analysis (IANA) Sonderforschungsbereich 1173 (SFB 1173) |
| Publikationstyp | Forschungsbericht/Preprint |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2365-662X urn:nbn:de:swb:90-595184 KITopen-ID: 1000059518 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Umfang | 49 S. |
| Serie | CRC 1173 ; 2016/20 |
| Schlagwörter | threshold phenomena, diffraction management, discrete NLS, variational methods, exponential decay of solutions |