Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Analysis (IANA) Sonderforschungsbereich 1173 (SFB 1173) |
Publikationstyp | Forschungsbericht/Preprint |
Publikationsjahr | 2016 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISSN: 2365-662X urn:nbn:de:swb:90-595184 KITopen-ID: 1000059518 |
Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
Umfang | 49 S. |
Serie | CRC 1173 ; 2016/20 |
Schlagwörter | threshold phenomena, diffraction management, discrete NLS, variational methods, exponential decay of solutions |