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TEM characterization of irradiated beryllium

Klimenkov, M.; Hoffmann, J.; Kurinsky, P.; Kuksenko, V.; Vladimirov, P.; Chakin, V.; Möslang, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Poster
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000059540
HGF-Programm 31.40.03 (POF III, LK 01)
Veranstaltung 16th European Microscopy Congress (EMC 2016), Lyon, F, August 28 - September 2, 2016
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