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TEM characterization of irradiated beryllium

Klimenkov, M. ORCID iD icon; Hoffmann, J.; Kurinsky, P.; Kuksenko, V.; Vladimirov, P. ORCID iD icon; Chakin, V.; Möslang, A. ORCID iD icon


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/9783527808465.EMC2016.6366
Dimensions
Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000059541
HGF-Programm 31.40.03 (POF III, LK 01) Materialentwicklung
Erschienen in 16th European Microscopy Congress (EMC 2016), Lyon, F, August 28 - September 2, 2016. Abstracts publ.online
Seiten MS-05-820
Nachgewiesen in Dimensions
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