TEM characterization of irradiated beryllium
Klimenkov, M.
; Hoffmann, J.; Kurinsky, P.; Kuksenko, V.; Vladimirov, P.
; Chakin, V.; Möslang, A.
; Hoffmann, J.; Kurinsky, P.; Kuksenko, V.; Vladimirov, P.
; Chakin, V.; Möslang, A.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000059541 |
| HGF-Programm | 31.40.03 (POF III, LK 01) Materialentwicklung |
| Erschienen in | 16th European Microscopy Congress (EMC 2016), Lyon, F, August 28 - September 2, 2016. Abstracts publ.online |
| Seiten | MS-05-820 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |