KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/9783527808465.EMC2016.6366

TEM characterization of irradiated beryllium

Klimenkov, M.; Hoffmann, J.; Kurinsky, P.; Kuksenko, V.; Vladimirov, P.; Chakin, V.; Möslang, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000059541
HGF-Programm 31.40.03 (POF III, LK 01)
Erschienen in 16th European Microscopy Congress (EMC 2016), Lyon, F, August 28 - September 2, 2016. Abstracts publ.online
Seiten MS-05-820
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page