Perspectives and limitations of symmetric X-ray Bragg reflections for inspecting polytypism in nanowires
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS) Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0909-0495 KITopen-ID: 1000059586 |
| HGF-Programm | 56.03.20 (POF III, LK 01) Nanoscience a.Material f.Inform.Technol. |
| Erschienen in | Journal of synchrotron radiation |
| Verlag | International Union of Crystallography |
| Band | 23 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 487-500 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions OpenAlex Web of Science |
Seitenaufrufe: 485
seit 27.04.2018
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