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Perspectives and limitations of symmetric X-ray Bragg reflections for inspecting polytypism in nanowires

Köhl, M.; Schroth, P.; Baumbach, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1107/S1600577516000333
ISSN: 0909-0495
KITopen ID: 1000059586
HGF-Programm 56.03.20; LK 01
Erschienen in Journal of synchrotron radiation
Band 23
Heft 2
Seiten 487-500
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