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Perspectives and limitations of symmetric X-ray Bragg reflections for inspecting polytypism in nanowires

Köhl, M. 1; Schroth, P. 1; Baumbach, T. 2
1 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1107/S1600577516000333
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Zitationen: 6
Web of Science
Zitationen: 5
Dimensions
Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0909-0495
KITopen-ID: 1000059586
HGF-Programm 56.03.20 (POF III, LK 01) Nanoscience a.Material f.Inform.Technol.
Erschienen in Journal of synchrotron radiation
Verlag International Union of Crystallography
Band 23
Heft 2
Seiten 487-500
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
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