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Improvement of the efficient referencing and sample positioning system for micro focused synchrotron X-ray techniques

Spangenberg, T.; Göttlicher, J.; Steininger, R.

Abstract (englisch):
An efficient referencing and sample positioning system is a basic tool for a micro focus beamline at a synchrotron. The seven years ago introduced command line based system was upgraded at SUL-X beamline at ANKA [1]. A new combination of current server client techniques offers direct control and facilitates unexperienced users the handling of this frequently used tool.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT)
ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1088/1742-6596/712/1/012014
ISSN: 1742-6588
URN: urn:nbn:de:swb:90-596036
KITopen ID: 1000059603
HGF-Programm 56.98.01; LK 01
Erschienen in Journal of physics / Conference Series
Band 712
Heft 1
Seiten 012014
Bemerkung zur Veröffentlichung 16th International Conference on X-ray Absorption Fine Structure (XAFS16), Karlsruhe, August 23-28, 2015
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