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Improvement of the efficient referencing and sample positioning system for micro focused synchrotron X-ray techniques

Spangenberg, T.; Göttlicher, J.; Steininger, R.

Abstract (englisch):
An efficient referencing and sample positioning system is a basic tool for a micro focus beamline at a synchrotron. The seven years ago introduced command line based system was upgraded at SUL-X beamline at ANKA [1]. A new combination of current server client techniques offers direct control and facilitates unexperienced users the handling of this frequently used tool.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000059603
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1742-6596/712/1/012014
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1742-6588
urn:nbn:de:swb:90-596036
KITopen-ID: 1000059603
HGF-Programm 56.98.01 (POF III, LK 01)
Erschienen in Journal of physics / Conference Series
Band 712
Heft 1
Seiten 012014
Bemerkung zur Veröffentlichung 16th International Conference on X-ray Absorption Fine Structure (XAFS16), Karlsruhe, August 23-28, 2015
Nachgewiesen in Scopus
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