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Does automated white-box test generation really help software testers?

Fraser, Gordon; Staats, Matt; McMinn, Phil Stephen; Arcuri, Andrea; Padberg, Frank 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1145/2483760.2483774
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Zitationen: 69
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4503-2159-4
KITopen-ID: 1000059698
Erschienen in ISSTA 2013 Proceedings of the 2013 International Symposium on Software Testing and Analysis
Verlag Association for Computing Machinery (ACM)
Seiten 291-301
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