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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1145/2483760.2483774

Does automated white-box test generation really help software testers?

Fraser, Gordon; Staats, Matt; McMinn, Phil Stephen; Arcuri, Andrea; Padberg, Frank



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4503-2159-4
KITopen ID: 1000059698
Erschienen in ISSTA 2013 Proceedings of the 2013 International Symposium on Software Testing and Analysis
Verlag ACM, New York (NY)
Seiten 291-301
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