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Invited - Cross-layer approaches for soft error modeling and mitigation

Ebrahimi, Mojtaba; Tahoori, Mehdi B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1145/2897937.2905007
ISBN: 978-1-4503-4236-0
KITopen ID: 1000059853
Erschienen in 53rd Annual Design Automation Conference (DAC), Austin, TX, USA, June 05 - 09, 2016
Verlag ACM, New York (NY)
Seiten 32/1-6
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