Invited - Cross-layer approaches for soft error modeling and mitigation
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4503-4236-0 KITopen-ID: 1000059853 |
| Erschienen in | 53rd Annual Design Automation Conference (DAC), Austin, TX, USA, June 05 - 09, 2016 |
| Verlag | Association for Computing Machinery (ACM) |
| Seiten | 32/1-6 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |