Measurement of the branching fraction of B+ →τ+ντ decays with the semileptonic tagging method

Kronenbitter, B.; Heck, M.; Goldenzweig, P.; Kuhr, T.; Abdesselam, A.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Arinstein, K.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Ayad, R.; Aziz, T.; Bakich, A. M.; Bansal, V.; Barberio, E.; Bhardwaj, V.; Bondar, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bračko, M.; Browder, T. E.; Červenkov, D.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Chistov, R.; Cho, K.; Chobanova, V.; Choi, Y.; Cinabro, D.; Dalseno, J.; Danilov, M.; Dingfelder, J.; DoleŽal, Z.; Drásal, Z.; Drutskoy, A.; Dutta, D.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Farhat, H.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Frost, O.; Fulsom, B. G.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Getzkow, D.; Gillard, R.; Glattauer, R.; Golob, B.; Grygier, J.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; He, X. H.; Heider, M.; Heller, A.; Horiguchi, T.; Huschle, M.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, Y.; Jaegle, I.; Joo, K. K.; Julius, T.; Kang, K. H.; Kato, E.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, J. B.; Kim, J. H.; Kim, K. T.; Kim, M. J.; Kim, S. H.; Kim, Y. J.; Kinoshita, K.; Ko, B. R.; Kodyš, P.; KriŽan, P.; Krokovny, P.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Lee, D. H.; Lee, I. S.; Lewis, P.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Liventsev, D.; Lukin, P.; Matvienko, D.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mohanty, S.; Moll, A.; Moon, H. K.; Mussa, R.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nanut, T.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Okuno, S.; Olsen, S. L.; Ostrowicz, W.; Oswald, C.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Park, H.; Pedlar, T. K.; Pesántez, L.; Pestotnik, R.; Petrič, M.; Piilonen, L. E.; Pulvermacher, C.; RibeŽl, E.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Ryu, S.; Sakai, Y.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Sato, Y.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schram, M.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Senyo, K.; Seon, O.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shibata, T.-A.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Sohn, Y.-S.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stanič, S.; Starič, M.; Steder, M.; Sumiyoshi, T.; Tamponi, U.; Teramoto, Y.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uehara, S.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Van Hulse, C.; Vanhoefer, P.; Varner, G.; Vinokurova, A.; Vossen, A.; Wagner, M. N.; Wang, C. H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Williams, K. M.; Won, E.; Yamamoto, H.; Yashchenko, S.; Yook, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhulanov, V.; Ziegler, M.; Zupanc, A.

doi:10.1103/PhysRevD.92.051102

Measurement of the branching fraction of B+ →τ+ντ decays with the semileptonic tagging method

Kronenbitter, B. ¹; Heck, M. ¹; Goldenzweig, P. ¹; Kuhr, T.; Abdesselam, A.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Arinstein, K.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Ayad, R.; Aziz, T.; Bakich, A. M.; Bansal, V.; Barberio, E.; Bhardwaj, V.; Bondar, A.; Bonvicini, G.; ... mehr

Externe Links

Download

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevD.92.051102

Scopus
Zitationen: 66

Web of Science
Zitationen: 49

Dimensions
Zitationen: 48

Export

Statistiken

Seitenaufrufe: 27
seit 18.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2015
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0556-2821, 1089-4918, 1550-2368, 1550-7998, 2470-0010, 2470-0029 KITopen-ID: 1000059903
Erschienen in	Physical review / D
Verlag	American Physical Society (APS)
Band	92
Heft	5
Seiten	Art. Nr.: 051102
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus Web of Science

Repository KITopen

Measurement of the branching fraction of B+ →τ+ντ decays with the semileptonic tagging method