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In situ and operando atomic force microscopy of high-capacity nano-silicon based electrodes for lithium-ion batteries

Breitung, Ben; Baumann, Peter; Sommer, Heino; Janek, Jürgen; Brezesinski, Torsten



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1039/c6nr03575b
ISSN: 2040-3364, 2040-3372
KITopen ID: 1000059910
HGF-Programm 37.01.01; LK 01
Erschienen in Nanoscale
Band 8
Heft 29
Seiten 14048-14056
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