In situ and operando atomic force microscopy of high-capacity nano-silicon based electrodes for lithium-ion batteries

Breitung, Ben; Baumann, Peter; Sommer, Heino; Janek, Jürgen; Brezesinski, Torsten

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Jahr	2016
Sprache	Englisch
Identifikator	DOI: 10.1039/c6nr03575b ISSN: 2040-3364, 2040-3372 KITopen ID: 1000059910
HGF-Programm	37.01.01; LK 01
Erschienen in	Nanoscale
Band	8
Heft	29
Seiten	14048-14056