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Smarte Daten durch gute Venetzung : Smart Data Innovation LAB bietet eine starke Infrastruktur und vernetzt Partner aus Forschung und Industrie

Beigl, Michael; Schäfer, Sebastian



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Telematik (TM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 1869-2311
URN: urn:nbn:de:swb:90-600142
KITopen ID: 1000060014
Erschienen in LookKIT
Heft 3
Seiten 30-32
URLs Gesamtwerk
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