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Smarte Daten durch gute Venetzung : Smart Data Innovation LAB bietet eine starke Infrastruktur und vernetzt Partner aus Forschung und Industrie

Beigl, Michael; Schäfer, Sebastian

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000060006
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Telematik (TM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 1869-2311
urn:nbn:de:swb:90-600142
KITopen-ID: 1000060014
Erschienen in LookKIT
Heft 3
Seiten 30-32
Relationen in KITopen
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