| Zugehörige Institution(en) am KIT | Helmholtz-Institut Ulm (HIU) Institut für Nanotechnologie (INT) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1439-4243, 1863-7809 KITopen-ID: 1000060157 |
| HGF-Programm | 37.01.01 (POF III, LK 01) Fundamentals and Materials |
| Erschienen in | Imaging & microscopy / EMC SPECIAL 2016 |
| Verlag | GIT Verlag |
| Band | 18 |
| Heft | 3 |
| Seiten | 24-27 |
| Schlagwörter | 2014-013-004811, 2014-013-004772, FIB, TEM |