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Development and characterization of adjustable refractive index scattering epoxy acrylate polymer layers

Eiselt, Thomas; Preinfalk, Jan; Gleißner, Uwe; Lemmer, Uli; Hanemann, Thomas


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Lichttechnisches Institut (LTI)
Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Poster
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000060250
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems
Veranstaltung SPIE Optics and Photonics, San Diego, CA, August 28 - September 1, 2016
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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