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Automation of the test procedure for accelerated aging of implant packages

Koker, Liane; Nagel, Jörg A.; Schulz, Bernhard; Ritter, Fabian; Vollmannshauser, Stefan; Besser, Heino; Gengenbach, Ulrich



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0178-2312, 0340-434x, 2196-677X
KITopen-ID: 1000060395
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01)
Erschienen in Automatisierungstechnik
Band 64
Heft 10
Seiten 827-838
Nachgewiesen in Web of Science
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