KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Automation of the test procedure for accelerated aging of implant packages

Koker, Liane; Nagel, Jörg A.; Schulz, Bernhard; Ritter, Fabian; Vollmannshauser, Stefan; Besser, Heino; Gengenbach, Ulrich



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1515/auto-2016-0056
ISSN: 0178-2312, 0340-434x, 2196-677X
KITopen ID: 1000060395
HGF-Programm 43.22.03; LK 01
Erschienen in Automatisierungstechnik
Band 64
Heft 10
Seiten 827-838
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page