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Automation of the test procedure for accelerated aging of implant packages

Koker, Liane ORCID iD icon 1; Nagel, Jörg A.; Schulz, Bernhard; Ritter, Fabian; Vollmannshauser, Stefan 1; Besser, Heino 2; Gengenbach, Ulrich 1
1 Institut für Angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0178-2312, 0340-434x, 2196-677X
KITopen-ID: 1000060395
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems
Erschienen in Automatisierungstechnik
Verlag De Gruyter
Band 64
Heft 10
Seiten 827-838
Nachgewiesen in Dimensions
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