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Postprint
DOI: 10.5445/IR/1000060460
Veröffentlicht am 24.01.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TPS.2016.2586518
Scopus
Zitationen: 8
Web of Science
Zitationen: 7

A Test Environment for Power Semiconductor Devices Using a Gate-Boosting Circuit

Hochberg, Martin; Sack, Martin; Mueller, Georg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0093-3813
URN: urn:nbn:de:swb:90-604609
KITopen-ID: 1000060460
HGF-Programm 35.13.01 (POF III, LK 01)
Erschienen in IEEE transactions on plasma science
Band 44
Heft 10
Seiten 2030-2034
Nachgewiesen in Web of Science
Scopus
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