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A Test Environment for Power Semiconductor Devices Using a Gate-Boosting Circuit

Hochberg, Martin; Sack, Martin; Mueller, Georg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/TPS.2016.2586518
ISSN: 0093-3813
KITopen ID: 1000060460
HGF-Programm 35.13.01; LK 01
Erschienen in IEEE transactions on plasma science
Band 44
Heft 10
Seiten 2030-2034
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