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A Test Environment for Power Semiconductor Devices Using a Gate-Boosting Circuit

Hochberg, Martin 1; Sack, Martin 1; Mueller, Georg 1
1 Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Postprint §
DOI: 10.5445/IR/1000060460
Veröffentlicht am 24.01.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TPS.2016.2586518
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Zitationen: 14
Dimensions
Zitationen: 18
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0093-3813
urn:nbn:de:swb:90-604609
KITopen-ID: 1000060460
HGF-Programm 35.13.01 (POF III, LK 01) Biomassen und Vorbehandlung
Erschienen in IEEE transactions on plasma science
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 44
Heft 10
Seiten 2030-2034
Nachgewiesen in Dimensions
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