A Test Environment for Power Semiconductor Devices Using a Gate-Boosting Circuit
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0093-3813 urn:nbn:de:swb:90-604609 KITopen-ID: 1000060460 |
| HGF-Programm | 35.13.01 (POF III, LK 01) Biomassen und Vorbehandlung |
| Erschienen in | IEEE transactions on plasma science |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 44 |
| Heft | 10 |
| Seiten | 2030-2034 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus OpenAlex Dimensions |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |