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Reduced tight-binding models for elemental Si and N, and ordered binary Si-N systems

Gehrmann, J.; Pettifor, D. G.; Kolmogorov, A. N.; Reese, M.; Mrovec, M.; Elsaesser, C.; Drautz, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1103/PhysRevB.91.054109
ISSN: 0163-1829, 0556-2805, 1094-1622, 1095-3795, 1098-0121, 1550-235X, 2469-9950, 2469-9969
KITopen ID: 1000060788
Erschienen in Physical review / B
Band 91
Heft 5
Seiten Art. Nr.: 054109
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