KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Low temperature transport spectroscopy of defects using Schottky-barrier MOSFETs

Calvet, L. E.; Meshkov, G. A.; Strupiechonski, E.; Toubestani, D.; Snyder, J. P.; Fortuna, F.; Wernsdorfer, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1016/j.physb.2009.08.319
ISSN: 0921-4526, 1873-2135
KITopen ID: 1000061080
Erschienen in Physica / B
Band 404
Heft 23-24
Seiten 5136-5139
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page