Low temperature transport spectroscopy of defects using Schottky-barrier MOSFETs
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Physikalisches Institut (PHI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0921-4526, 1873-2135 KITopen-ID: 1000061080 |
| Erschienen in | Physica / B |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 404 |
| Heft | 23-24 |
| Seiten | 5136-5139 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science Dimensions |