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Probing the density of states in a metal-oxide-semiconductor field-effect transistor

Calvet, L. E.; Snyder, J. P.; Wernsdorfer, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1103/PhysRevB.78.193309
ISSN: 0163-1829, 0556-2805, 1094-1622, 1095-3795, 1098-0121, 1550-235X, 2469-9950, 2469-9969
KITopen ID: 1000061121
Erschienen in Physical review / B
Band 78
Heft 19
Seiten 193309/1-3
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