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Transport spectroscopy of single Pt impurities in silicon using Schottky barrier MOSFETs

Calvet, L. E.; Wernsdorfer, W.; Snyder, J. P.; Reed, M. A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1088/0953-8984/20/37/374125
ISSN: 0953-8984, 1361-648X
KITopen ID: 1000061129
Erschienen in Journal of physics / Condensed matter
Band 20
Heft 37
Seiten 374125/1-5
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