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Signals induced by charge-trapping in EDELWEISS FID detectors: analytical modeling and applications

Arnaud, Q.; Armengaud, E.; Augier, C.; Benoît, A.; Bergé, L.; Billard, J.; Blümer, J. 1; Boissière, T. de; Broniatowski, A. 1; Camus, P.; Cazes, A.; Chapellier, M.; Charlieux, F.; Dumoulin, L.; Eitel, K. 2; Foerster, N. 1; Fourches, N.; Gascon, J.; Giuliani, A.; ... mehr


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/11/10/P10008
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Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Institut für Kernphysik (IKP)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
KITopen-ID: 1000061539
HGF-Programm 51.03.05 (POF III, LK 01) Dunkle Materie
Erschienen in Journal of Instrumentation
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 11
Heft 10
Seiten Art. Nr.: P10008
Nachgewiesen in Dimensions
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