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Signals induced by charge-trapping in EDELWEISS FID detectors: analytical modeling and applications

Arnaud, Q.; Armengaud, E.; Augier, C.; Benoît, A.; Bergé, L.; Billard, J.; Blümer, J.; de Boissière, T.; Broniatowski, A.; Camus, P.; Cazes, A.; Chapellier, M.; Charlieux, F.; Dumoulin, L.; Eitel, K.; Foerster, N.; Fourches, N.; Gascon, J.; Giuliani, A.; Gros, M.; ... mehr



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Institut für Kernphysik (IKP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1088/1748-0221/11/10/P10008
ISSN: 1748-0221
KITopen ID: 1000061539
HGF-Programm 51.03.05; LK 01
Erschienen in Journal of Instrumentation
Band 11
Heft 10
Seiten Art. Nr.: P10008
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