Signals induced by charge-trapping in EDELWEISS FID detectors: analytical modeling and applications
Arnaud, Q.; Armengaud, E.; Augier, C.; Benoît, A.; Bergé, L.; Billard, J.; Blümer, J. 1; Boissière, T. de; Broniatowski, A. 1; Camus, P.; Cazes, A.; Chapellier, M.; Charlieux, F.; Dumoulin, L.; Eitel, K.
2; Foerster, N. 1; Fourches, N.; Gascon, J.; Giuliani, A.;
2; Foerster, N. 1; Fourches, N.; Gascon, J.; Giuliani, A.; 
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP) Institut für Kernphysik (IKP) Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1748-0221 KITopen-ID: 1000061539 |
| HGF-Programm | 51.03.05 (POF III, LK 01) Dunkle Materie |
| Erschienen in | Journal of Instrumentation |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 11 |
| Heft | 10 |
| Seiten | Art. Nr.: P10008 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science Dimensions |